可观测1mm左右的玻璃基板透过波面的马赫泽德（Mach-Zehnder）干涉仪。
以D-TOP为基础，从样品到成像透镜的距离短，容易实现了放大观测。
摄像头的图像，经USB接口和计算机连接，可记录静止画面和动画。
另外，使用2个偏光板调节激光亮度，可避免图像饱和，容易得到清晰的图像。

使用干涉仪，可以评估曲率半径较小的凹面镜的曲率半径值。
可以观测到凹面镜反射干涉条纹的镜面位置有2个。
一个是在图中所示双胶合透镜的焦点处，另一个是被测凹面的曲率中心和其焦点重合的位置。
读取移动此样品平台的微分头的刻度值，便可得到凹面样品的曲率半径。

使用了1/4波长板和PBS的偏光迈克耳逊干涉仪，可测试半导体激光器的背景光的可干涉长度。
首先使用He-Ne激光光源，调整好干涉仪，然后使用平台把反射镜移开，入射一束准直的半导体激光束。使用偏光板过滤掉激光成分，仅让背景光到达摄像头。一点一点地耐心调试可动反射镜找到出现干涉条纹的位置。可以观测到干涉条纹的范围便是其可干涉长度了。