【联系我们】[email protected]【对 WEB 的意见和要求】[email protected]

比较产品
My Quote
Loading...
停止销售

无光程差光束平行度检验仪 / SPVNIR-05-CS

可观测检验干涉长很小的光束的平行程度。

查询

型号
SPVNIR-05-CS
添加到收藏夹 添加并比较
•将其直接插入需评估的光束中，便可观测光束的平行程度。它能大幅减轻光轴调整的负担，节约调整时间，更容易得到更高质量 的光束。
• 可用于旧型同类产品无法观测的可干涉性很差的（干涉长度：几十μm）。
• 对应波长范围宽（400nm～1100nm）
• 产品配套齐全（含摄像头，USB电缆，显示软件），到货后可直接使用。 ※计算机需要用户自己准备。
更多信息
目录编号 W2059
RoHS 否
CE 否
资料下载
PDF
图纸下载
DXF
STP
IGES
SAT
东京总部
  • 邮政编码130-0021 日本 东京 墨田区 绿1-19-9
  • 电话 : +81-3-5638-822
  • 传真 : +81-3-5638-6550
  • E-mail [email protected]
大阪支店
  • 邮政编码532-0011 日本 大阪 淀川区 西中岛4-9-28
  • 电话 : +81-6-6307-4835
  • 传真 : +81-6-6307-4834
  • E-mail [email protected]
九州营业所
  • 邮政编码812-0013 日本 福冈市博多区博多站东1-17-25
  • 电话 : +81-92-481-4300
  • 传真 : +81-92-481-4310
  • E-mail [email protected]
关联子公司
电子型录
从产品类别中选择
技术支持及相关信息・联系我们
软件信息 (英文)
资料请求
YouTube
到公司信息网站
IR 信息
Copyright (c) SIGMAKOKI CO.,LTD. All Rights Reserved..
网站地图　隐私权政策