低散乱平行平面基板 / OPSQSP-30C05-10-5
平行平面基板に特殊な研磨を行うことで、表面粗さを0.2nm（Ra）以下にしました。
基板の散乱の影響が気になる高出力レーザ用ミラーやX線用のミラーの基板として使用できます。
基板の散乱の影響が気になる高出力レーザ用ミラーやX線用のミラーの基板として使用できます。
在庫あり
品番
OPSQSP-30C05-10-5
￥30,000
◦ウェッジタイプはビームスプリッターなどの裏面反射の影響が気になる場合に使用します。
◦CaF2（ フッ化カルシウム）、MgF2（フッ化マグネシウム）は紫外域及び赤外域で高い透過性があります。
◦表面粗さ（ミクロな凸凹）と同時に面精度（面全体の平坦さ）も高く加工されている理想に近い基板です。
◦CaF2（ フッ化カルシウム）、MgF2（フッ化マグネシウム）は紫外域及び赤外域で高い透過性があります。
◦表面粗さ（ミクロな凸凹）と同時に面精度（面全体の平坦さ）も高く加工されている理想に近い基板です。
| カタログコード | W3140 | ||||||||||||||||||
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| RoHS | Yes | ||||||||||||||||||
| CE | No | ||||||||||||||||||
| 資料ダウンロード | |||||||||||||||||||
| ご案内 | ▶低散乱基板にご要望のコーティングを付けたものの製作も承ります。 | ||||||||||||||||||
| ご注意 | ▶低散乱基板の両面ともコーティングされていません。ガラス表面には2.5％～4％の反射があります。 ▶ウェッジタイプを透過で使用した場合、ビームが0.5度程度傾斜します。 ▶CaF2は表面に傷がつきやすく、紙で拭くことはできません。ゴミや埃はエアーブロアーを使って取り除いてください。 ▶CaF2やMgF2は高湿の環境下で長時間放置すると、表面が荒れてきます。使用しない場合はオートドライなどの湿度が少ない環境で保管ください。 |
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| 仕様 |
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