介绍
自动偏光解析系统指南
所谓偏光解析系统
通过测定并分析偏光状态，可以了解物质内部的状态，或表面性状，或光学特性等。
西格玛光机推荐的自动偏光解析系统是一套标准化了的光源，光器件，支架平台，测量仪和软件的组合。
它既可完成简易的偏光测量，也可以改装为专用的测定装置，应用广泛。
偏光测量软件
简易偏光解析软件「SimpleAPAS」
可实现激光等特定波长的消光比，相位差测定，也可组合到客户的应用程序中去。
主要功能
波长板，检偏器光轴的自动调整
塞拿蒙补偿(Senarmont compensator)测量相位差
转动补偿器方式的偏光计测和相位差测量
各种过程计测
综合偏光解析软件「SKPola」
使用紫外，可见或近红外光源，配合专用的光学系统，可分析分光数据特性。
对应单一波长测定和分光测定，还可以测定高次相位差，可完成偏光光学零件的主要技术指标的评估。
偏光光学零件光轴的自动调整
塞拿蒙补偿(Senarmont compensator)测量相位差
转动补偿器方式的偏光计测
转动检片器补偿方式的偏光计测
圆偏光对比度测量
偏光器透过偏光比测定
分光透过率测定
各种过程计测
偏光测定应用例
